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宽禁带圆片在室温下与Si片的接合
宽禁带圆片在室温下与Si片的接合
作者:
孙再吉
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
三菱重工
圆片
Si片
电子材料
自主知识产权
宽禁带
温下
热应力
摘要:
【正】据《电子材料》(日)2010年第9期报道,三菱重工开发了一种具有自主知识产权的常温圆片接合机,成功地将SiC、GaN和蓝宝石在室温下分别与Si片直接接合。通过材料高效、高品质的接合,为新器件的开发、新器件的规模化生产开拓了新的途径。常温下接合,主要采用在真空条件下通过离子束照射,激活接合
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篇名
宽禁带圆片在室温下与Si片的接合
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半导体信息
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三菱重工
圆片
Si片
电子材料
自主知识产权
宽禁带
温下
热应力
年,卷(期)
2011,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
17-17
页数
1页
分类号
F426.63
字数
语种
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圆片
Si片
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研究去脉
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期刊影响力
半导体信息
主办单位:
中国半导体行业协会分立器件分会
中国电子科技集团公司第五十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
开本:
16开
出版地:
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东
邮发代号:
创刊时间:
1990
语种:
chi
出版文献量(篇)
5953
总下载数(次)
11
总被引数(次)
664
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