数字I/O电路的多总线自动测试诊断方法研究

• 作者: 任新建 杨立国 王学伟 王琳
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 多总线 自动测试系统 最小二乘支持向量机
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 测量与控制技术
• 页码范围: 12-15,19
• 分类号: TP391
• 字数: 3509字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2011.07.003

摘要

采用VXI总线和GPIB总线构成多总线自动测试诊断系统,应用于多种数字电路板的测试诊断.在此系统平台上提出并实现了一种基于最小二乘支持向量机的电路测试诊断方法,该方法对训练样本需求少、训练速度快.最后以实际可编程数字I/O电路板为测试诊断实例,在多总线平台上实现了电路的自动测试与故障诊断.结果表明,该方法测试诊断时间短,大大提高了电路测试诊断效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王学伟	北京化工大学信息科学与技术学院	115	1415	18.0	34.0
2	杨立国	北京化工大学信息科学与技术学院	12	87	6.0	9.0
3	王琳	北京化工大学信息科学与技术学院	40	778	11.0	27.0
4	任新建	北京化工大学信息科学与技术学院	1	6	1.0	1.0