雷达脉冲上升/下降沿测量影响因素分析模型

• 作者: 余志斌 朱斌 金炜东
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 雷达辐射源识别 雷达脉冲测量 影响因素 分析模型 Logistic回归
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 信号与信息处理技术
• 页码范围: 24-28
• 分类号: TN95
• 字数: 3006字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2011.10.006

摘要

为实现对雷达脉冲上升/下降沿的准确测量,在对其影响因素分析的基础上,将Logistic回归分析方法引入雷达脉冲上升/下降沿测量的影响因素分析,提出了雷达脉冲上升/下降沿测量的影响因素分析模型.采用因子分析和多元相关回归分析法对各影响因素的作用和模型的回归显著性进行了分析.实验结果表明,多径效应的影响最大,其次为通频带宽,影响最小的是杂波效应.同时,结果分析表明提出的影响因素分析模型是合理的,这对高精度的雷达脉冲测量以及影响程度评价具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱斌	西南交通大学电气工程学院	30	190	7.0	12.0
3	金炜东	西南交通大学电气工程学院	295	3889	30.0	49.0
4	余志斌	西南交通大学电气工程学院	40	366	11.0	17.0