后处理工艺过程中汞的测定

• 作者: 吴继宗 应浙聪 苏玉兰 赵立飞
• 来源期刊: 核化学与放射化学
• 学科: 化学
• 关键词: 双硫腙 冷原子荧光 后处理工艺
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 318-320
• 分类号: O657.31
• 字数: 2153字
• 语种: 中文

摘要

本工作建立了双硫腙萃取分离,冷原子荧光光谱法测定后处理工艺中汞的方法.研究了双硫腙萃取分离Hg的方法,优化了仪器的载气压力,方法的回收率在93％～112％,相对标准偏差为8.0％(n=6).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴继宗	中国原子能科学研究院放射化学研究所	51	158	7.0	9.0
2	苏玉兰	中国原子能科学研究院放射化学研究所	7	16	3.0	4.0
3	赵立飞	中国原子能科学研究院放射化学研究所	16	40	3.0	6.0
4	应浙聪	中国原子能科学研究院放射化学研究所	6	9	2.0	3.0