泛华恒兴推出最新电子元器件老化测试系统

• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 测试系统 老化 电路板 温度点
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 绿色质量观察
• 页码范围: 54-54
• 分类号: TN6
• 字数: 1260字
• 语种: 中文

摘要

近日，北京泛华恒兴科技有限公司推出了电子元器件老化测试系统，该系统主要用于对探井设备电路板中多种电子元器件的入厂筛选与检验，其中包括对电阻、电容、电感等常用元器件的检测。作为专业的电子元器件老化测试系统，其可在室温至180度的任意温度点下，