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汉明码的改进及在存储器中的实现
汉明码的改进及在存储器中的实现
作者:
周昕杰
徐睿
蒋婷
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
汉明码
存储器
纠错电路
摘要:
随着信息技术的发展,数据的传输及存储的量越来越大.而在数据传输中,出错的概率也越来越大.为保证数据的正确性,汉明码被广泛的采用.文章首先介绍了普通汉明码的形成原理,在此基础上对其进行了改进,使得校验位不再受特定位限制,且编码时可以减少码位的运算次数,提高了系统性能.为减少系统开销,在存储器中实现时,对电路进行了优化,使得编码电路和译码电路能够共用.该设计为大规模存储器的设计提供了良好的基础.
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内容分析
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文献信息
篇名
汉明码的改进及在存储器中的实现
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
汉明码
存储器
纠错电路
年,卷(期)
2011,(5)
所属期刊栏目
电路设计
研究方向
页码范围
19-22,27
页数
分类号
TN303
字数
2895字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2011.05.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
徐睿
18
61
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7.0
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蒋婷
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周昕杰
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研究主题发展历程
节点文献
汉明码
存储器
纠错电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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