单圈T函数输出序列的稳定性研究

• 作者: 张翀 罗小建 胡斌 郝珊珊
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 密码学 T函数 线性复杂度 k-错线性复杂度
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 2328-2333
• 分类号: TN918.1
• 字数: 6618字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1146.2010.01384

摘要

k-错线性复杂度是衡量序列稳定性的重要指标,该文对单圈T函数按位输出序列的k-错线性复杂度进行了深入研究,利用序列线性复杂度的多项式求解法和Chan Games算法,分析得到了当输入规模n=2t时,单圈T函数按位输出序列k-错线性复杂度的分布,并进一步给出了该序列的k-错线性复杂度曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡斌	信息工程大学电子技术学院	9	9	2.0	2.0
2	郝珊珊		4	7	2.0	2.0
3	张翀	信息工程大学电子技术学院	2	11	1.0	2.0