多DDS并行伪差值合成的相位截断误差分析

• 作者: 刘科 田书林 肖寅东
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 相位截断 伪插值 杂散 直接数字合成
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 544-549
• 分类号: TB973
• 字数: 3876字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2011.06.14

摘要

对理想多DDS伪插值信号的原理与频谱分布进行分析,建立了相位截断情况下的多DDS伪插值系统模型,在此模型基础上对相位截断杂散频谱进行分析与计算,给出相位截断频谱杂散的分布规律和幅度大小,得出关于杂散谱线数量、分布规律及频率控制字选择依据的一些结论,并利用计算机仿真与硬件实验对不同参数时的相位截断频谱杂散进行验证.这些分析可用于伪插值DDS信号源或时钟发生器设计中的杂散评估与方案选择及指标分配提供理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田书林	电子科技大学自动化工程学院	136	1001	16.0	25.0
2	刘科	电子科技大学自动化工程学院	37	263	10.0	15.0
3	肖寅东	电子科技大学自动化工程学院	15	97	5.0	9.0