Si2CmN团簇的结构及稳定性的密度泛函理论研究

• 作者: 张平 盖志刚 罗崇泰 陈焘
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Si2CmN团簇 密度泛函理论 稳定性
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 原子、分子与团族物理
• 页码范围: 73-77
• 分类号: O561.1
• 字数: 2328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2011.01.013

摘要

用密度泛函理论(DFT)的B3LYP/6-311G*方法,对Si2CmN(m=2～10)团簇的几何构型、振动频率和基态能量等性质进行了研究,讨论了化学键的特征和热力学稳定性.振动频率和振动强度被用来判断体系的基态结构.结果表明,m=2～40的团簇为线性结构,随着m的增大,团簇的自旋多重度均为2,Si原子在C与N原子形成的线性链端部成键,团簇的基态能量近似线性增大.m为偶数的Si2CmN团簇比m为奇数的更为稳定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗崇泰	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	31	224	9.0	13.0
2	陈焘	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	23	216	8.0	14.0
3	盖志刚	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	4	19	2.0	4.0
4	张平	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	4	19	2.0	4.0