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摘要:
[目的]观察硫酸铟对中国仓鼠肺纤维细胞(V79细胞)内活性氧(ROS)和线粒体膜电位的影响.[方法]不同浓度硫酸铟(0.5、1.0、2.0、4.0、8.0 mmol/L)染毒体外培养的V79细胞,MTT法检测细胞存活率;以2',7'-荧光素乙二酯和碘化四氯代四乙基苯咪唑羰花青为探针,采用流武细胞术,检测经不同浓度硫酸铟染毒12h后V79细胞内ROS和线粒体膜电位的水平. [结果]硫酸铟能明显降低V79细胞的存活率;不同浓度硫酸铟作用于V79细胞12h后,细胞内的平均荧光强度从21.60增加到31.10,线粒体膜电位从0.191 3降低到0.1090,与对照组相比,差异有统计学意义(P<0.05). [结论]硫酸铟能增加V79细胞内ROS的释放、降低线粒体膜电位,影响细胞的正常代谢功能,对细胞造成损伤.
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文献信息
篇名 硫酸铟对V79细胞内活性氧和线粒体膜电位的影响
来源期刊 环境与职业医学 学科 医学
关键词 硫酸铟 V79细胞 活性氧 线粒体膜电位
年,卷(期) 2011,(11) 所属期刊栏目 实验研究
研究方向 页码范围 684-686
页数 分类号 R114
字数 语种 中文
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环境与职业医学
月刊
1006-3617
31-1879/R
大16开
上海市延安西路1326号
4-568
1984
chi
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