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ASLl000测试系统在运算放大器电路测试中的应用
ASLl000测试系统在运算放大器电路测试中的应用
作者:
岚郑宇
田波焦
贵忠方
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
ASLl000测试系统
辅助放大器
预置电压
摘要:
重点介绍了在ASLl000测试系统上对一种运算放大器电路进行测试开发的过程,完成了由间接测试向直接测试的转化。最后将传统测试方法与ASLl000系统测试方法进行了对比,给出两种测试方法的对比结果。
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文献信息
篇名
ASLl000测试系统在运算放大器电路测试中的应用
来源期刊
集成电路通讯
学科
工学
关键词
ASLl000测试系统
辅助放大器
预置电压
年,卷(期)
2011,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
43-47
页数
5页
分类号
TN722.77
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
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姓名
单位
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被引次数
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G指数
1
田波焦
1
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贵忠方
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岚郑宇
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
ASLl000测试系统
辅助放大器
预置电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路通讯
主办单位:
中国兵器工业第214研究所
出版周期:
季刊
ISSN:
CN:
开本:
大16开
出版地:
安徽省蚌埠市06信箱
邮发代号:
创刊时间:
1983
语种:
chi
出版文献量(篇)
868
总下载数(次)
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