DRZ和CSRZ的4O G DWDM系统的性能测试

• 作者: 冯先成 李寒 罗帆 韵湘
• 来源期刊: 武汉工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: DWDM 40 G调制码型 OTU性能测试 DRZ CSRZ
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 全国微型化学实验研讨会专栏
• 页码范围: 98-103
• 分类号: TN929.11
• 字数: 3379字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2869.2011.07.026

摘要

介绍光波分复用N×40 Gbps系统的发展现状；其次,阐述光波分复用N×40 Gbps系统的关键技术及调制码型技术( ODB、CSRZ、DRZ、DPSK、DQPSK),提出了40 Gbps WDM系统光接口参数的要求；然后,采用加入合适的可调式光衰减器(VOA)方法,进行眼图等性能测试；最后,通过40G系统仿真结果及具体试验,40GWDM系统可以满足商业应用需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯先成	武汉工程大学电气信息学院	25	81	5.0	7.0
2	李寒	武汉工程大学电气信息学院	11	86	5.0	9.0
3	韵湘		10	55	5.0	7.0
4	罗帆	武汉工程大学电气信息学院	5	42	3.0	5.0