高温HCl环境下设备失效机理分析及腐蚀图谱绘制

• 作者: 张健 王聪 蒋晓东
• 来源期刊: 压力容器
• 学科: 工学
• 关键词: 活性氧化 高温腐蚀 HCl 腐蚀图谱
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 安全分析
• 页码范围: 46-51
• 分类号: TQ051.5
• 字数: 3977字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4837.2011.10.008

摘要

通过引用Cl2引起的活性氧化理论,分析一套现役蛇管式浸没急冷器的快速腐蚀失效机理.通过理论与实际情况的综合分析,阐述了该设备只在某个特定的部位发生快速腐蚀的原因.结合腐蚀减薄数据和模拟结果绘制了该部位的腐蚀图谱,并由另一设备的实际减薄情况验证了该图谱的可用性.该图谱可作为类似设备设计的依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张健		23	246	8.0	15.0
2	蒋晓东		30	206	7.0	14.0
3	王聪		3	1	1.0	1.0