2n-周期二元序列的k错线性复杂度期望

• 作者: 周建钦 崔洪成 范爱华 赵起
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 周期序列 线性复杂度 错误线性复杂度 错误线性复杂度分布 期望
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 20-23
• 分类号: TN911|TN918.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2011.06.006

摘要

线性复杂度和k错线性复杂度分别是度量密钥流序列的密码强度和稳定性的重要指标.该文通过研究2n-周期二元序列的线性复杂度,提出将k错线性复杂度的计算转化为求Hamming重量最小的错误序列；对线性复杂度为2n的2n-周期二元序列的k错线性复杂度的分布进行分析,给出这类周期序列的k错线性复杂度期望的上、下界.该结论推广了一个参考文献中的主要结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周建钦	杭州电子科技大学通信工程学院	56	123	6.0	9.0
2	范爱华	安徽工业大学数理学院	26	35	4.0	5.0
3	赵起	安徽工业大学计算机学院	4	2	1.0	1.0
4	崔洪成	安徽工业大学计算机学院	6	5	1.0	2.0