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摘要:
LED测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列,例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管LED的测试一般包含电气和光学测量,本文着重探讨电气特征分析,只在适当的位置介绍部分光学测量技术。
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利用掺杂制备高亮度的黄光器件
有机电致发光器件
掺杂
黄光
高亮度显示屏VFD的驱动芯片VF202及其应用
真空荧光显示
驱动
高耐压
显示屏
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试
来源期刊 电子产品世界 学科 工学
关键词 LED 测试 I-V1特性
年,卷(期) 2011,(7) 所属期刊栏目 技术专题(测试测量)
研究方向 页码范围 25-26,40
页数 分类号 TP393
字数 3987字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-5517.2011.06.003
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
LED
测试
I-V1特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品世界
月刊
1005-5517
11-3374/TN
大16开
北京市复兴路15号138室
82-552
1993
chi
出版文献量(篇)
11765
总下载数(次)
14
总被引数(次)
19602
论文1v1指导