影响X射线数字成像系统分辨率的因素分析

• 作者: 张俊生 王明泉 郭永亮 陈志强
• 来源期刊: CT理论与应用研究
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 数字成像 分辨率 检测
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 工业CT
• 页码范围: 227-234
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文

摘要

X射线数字成像系统广泛应用于工业无损探伤领域,其分辨率是整个系统最重要的技术指标,直接决定了系统的检测精度和适用范围.本文以构成成像系统的各个组成部分为出发点,详细剖析了每一个组成部分自身的分辨率以及构成整个系统的分辨率,并将它与系统放大率的关系绘制成函数曲线.最后,以电子工业中BGA器件焊点的X射线自动检测系统为例,来说明如何选用系统部件来构建高分辨率的X射线数字成像系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王明泉	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	113	511	10.0	16.0
2	张俊生	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	22	47	5.0	6.0
6	陈志强	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	12	100	6.0	9.0
7	郭永亮	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	7	53	4.0	7.0