V形阵被动测向与测距性能分析

• 作者: 孙伟 杜栓平 马启明
• 来源期刊: 声学与电子工程
• 学科: 物理学
• 关键词: V形阵 被动测距 信噪比 性能分析
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 24-28
• 分类号: O4
• 字数: 2863字
• 语种: 中文

摘要

主要推导了多路径(包括单路径)情况下,V形阵被动测向与测距误差方差的克拉美罗(CR)下限,其性能取决于基阵夹角、基阵孔径、信噪比、目标辐射信号的频谱宽度和中心频率等因素.通过计算机仿真,比较分析了基阵夹角和信噪比对V形阵被动测向测距性能的影响关系:基阵夹角对测向和测距性能有着较大影响,基阵90°时对不同方位目标有着相同的测向性能和近似相同的测距性能,而其它基阵夹角时对不同方位目标的测向和测距性能是不均匀的;利用多路径信息能够较大幅度地提高被动测向与测距性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜栓平	第七一五研究所声纳技术重点实验室	12	43	3.0	6.0
2	马启明	第七一五研究所声纳技术重点实验室	9	13	2.0	3.0
3	孙伟	第七一五研究所声纳技术重点实验室	2	1	1.0	1.0