水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜热稳定性的影响

• 作者: 牛颖
• 来源期刊: 塑料
• 学科: 工学
• 关键词: 聚酰亚胺 二氧化硅 纳米杂化 水含量 热稳定性
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 结构与性能特辑
• 页码范围: 31-33
• 分类号: TQ323.7
• 字数: 2080字
• 语种: 中文

摘要

以TEOS为无机前躯体,采用溶胶-凝胶路线成功制备了水含量不同的3种聚酰亚胺/二氧化硅(P1/SiO2)纳米杂化薄膜.采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)、扫描电子显微镜(SEM)、热重分析(TGA)等方法研究了杂化薄膜的结构与热稳定性.研究结果表明:水含量对PI/SiO2杂化薄膜热稳定性影响很大.在水含量不同的3种杂化薄膜中,当水含量为1:6时,热稳定性最高.在质量损失为5％时,杂化薄膜的热分解温度为592.1℃.与纯PI相比,热稳定性升高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牛颖	大庆医学高等专科学校化学教研室	13	29	4.0	4.0