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摘要:
反走样是计算机图形学的基本问题.为了提高直线反走样的效率,针对FPGA硬件实现的特点,结合经典的Wu反走样算法,提出一种新的直线反走样算法.该算法根据像素点中心到理想直线的距离来计算灰度值,在生成直线时预测直线相邻像素点之间的灰度值变化,并建立递推公式,使用整数移位,加法和比较来完成直线反走样,计箅简单,便于硬件实现.经计算机和FPGA分别实现验证,新算法的反走样效果较好,运算速度快于Wu反走样算法并能通过FPGA进一步提高速度.
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文献信息
篇名 基于FPGA的直线反走样算法研究
来源期刊 计算机技术与发展 学科 工学
关键词 反走样 Wu算法 FPGA
年,卷(期) 2011,(2) 所属期刊栏目 智能、算法、系统工程
研究方向 页码范围 26-29
页数 分类号 TP391.72
字数 3352字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1673-629X.2011.02.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张焕春 南京航空航天大学自动化学院 115 1775 23.0 37.0
2 经亚枝 南京航空航天大学自动化学院 96 1188 19.0 30.0
3 贾银亮 南京航空航天大学自动化学院 24 102 4.0 9.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
反走样
Wu算法
FPGA
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机技术与发展
月刊
1673-629X
61-1450/TP
大16开
西安市雁塔路南段99号
52-127
1991
chi
出版文献量(篇)
12927
总下载数(次)
40
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111596
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