一种漫透射成像法激光强度时空分布测量装置

• 作者: 庞淼
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: CCD成像法 测量装置 激光强度 时空分布 透射 测量不确定度 高占空比 阵列探测器
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 151-152
• 页数: 2页
• 分类号: O53

摘要

激光强度分布测量是激光参数诊断的重要内容，目前主要使用阵列探测器法和CCD成像法，CCD成像法由于具有高分辨率和高占空比的突出优势而得到广泛应用，其中以漫反射成像法为主，漫透射成像法未见相关报道。漫反射法需要现场搭建设备、现场定标，而且对散射屏表面要求很高，因而使用起来非常不便。因此，我们设计了采用漫透射CCD成像法的装置，以实现对激光强度分布和功率的同时准确测量，测量分辨率达到5mm，占空比80％，功率测量不确定度小于8％。