GIS耐压试验中电晕损耗对品质因数的影响

• 作者: 吴灏 张晓宽 王炜 赵峻峰
• 来源期刊: 河北电力技术
• 学科: 工学
• 关键词: GIS 耐压试验 电晕损耗 品质因数
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 经验介绍
• 页码范围: 46-48
• 分类号: TM851
• 字数: 1969字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9898.2011.01.021

摘要

分析不同试验回路中品质因数及高压导线电晕损耗的影响因素,通过耐压试验实例阐述电晕损耗与品质因数的关系,提出减小高压导线电晕损耗以增大品质因数的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵峻峰		2	2	1.0	1.0
2	王炜		5	15	3.0	3.0
3	张晓宽		2	3	1.0	1.0
4	吴灏		1	0	0.0	0.0