RESOlution激光剥蚀系统在微量元素原位微区分析中的应用

• 作者: 凌明星 刘颖 孙卫东 张红 梁华英 涂湘林 邓文峰
• 来源期刊: 地球化学
• 学科: 地球科学
• 关键词: RESOlution M-50 双室样品室 Squid信号平滑装置 激光剥蚀 电感耦合等离子体质谱仪 MPI-DING glass
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 83-98
• 分类号: P595|P597
• 字数: 6237字
• 语种: 中文

摘要

采用美国Resonetics公司生产的RESOlution M-50激光剥蚀系统和Agilent 7500a型的ICP-MS联机,对7个不同岩性的地质样品经过熔融制备的MPI-DING玻璃标样的37种微量元素进行了分析.RESOlution M-50激光剥蚀系统包括一个193 nm ArF准分子(excimer)激光器,一个双室(two-volume ceil)样品室,一个平滑激光剥蚀脉冲的Squid系统和电脑控制高精度X-Y样品台移动、定位系统.双室样品室的好处是降低样品交叉污染,减少样品室吹洗所需时间.平滑激光剥蚀脉冲的Squid系统可以降低因激光脉冲带来的统计误差.样品定位系统的定位精度优于0.1 μm.本次实验使用的激光束斑直径为31 μm和69μm.分析结果表明,对于用地质样品制备的MPI-DING玻璃标样,微量元素分析的相对标准偏差RSD一般优于5%,分析值与不同参考值之间的相对偏差(RD)一般优于10%,少数RSD和RD较大的元素主要出现在含量很低或不均匀样品中.稀土元素的RSD和RD均优于5%.本研究证明,RESOlution M-50激光剥蚀系统与Agilent 7500a型ICP-MS联机,可准确测定从超基性岩到酸性岩的不同类型地质样品的微量元素,其新式的双室样品室和平滑Squid系统对于测定含量在0.1μg/g以上的元素具有更好的分析精度和准确度.