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摘要:
针对多芯电连接器在恶劣环境条件下经常出现的绝缘材料老化所导致的电子系统故障问题,对绝缘失效的电连接器建立了电路模型并进行了仿真研究,结果表明:绝缘电阻性能退化会在两个接触对之间形成电流泄漏通路,从而导致相邻接触对之间的信号互相干扰.其相互干扰的结果是,原本通过一个接触对传输的信号会受到相邻接触对的影响,表现为两种信号按某种规则的叠加,而且随着绝缘电阻的减小,信号失真会越来越严重.
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文献信息
篇名 电连接器绝缘失效建模及仿真研究
来源期刊 机电元件 学科 工学
关键词 电连接器 绝缘失效 电流泄漏 接触对
年,卷(期) 2011,(4) 所属期刊栏目 试验与检测
研究方向 页码范围 43-46,56
页数 分类号 TM501.3
字数 2388字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-6133.2011.04.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 许军 装甲兵工程学院控制工程系 26 264 7.0 15.0
2 李坤 装甲兵工程学院控制工程系 8 154 4.0 8.0
3 周银 装甲兵工程学院控制工程系 8 28 4.0 4.0
4 王蒙蒙 装甲兵工程学院控制工程系 5 19 3.0 4.0
5 张新喜 装甲兵工程学院控制工程系 10 78 5.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
电连接器
绝缘失效
电流泄漏
接触对
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
机电元件
双月刊
1000-6133
51-1296/TM
大16开
四川省绵阳市跃进路36号
1981
chi
出版文献量(篇)
1470
总下载数(次)
6
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