减少贵金属用量保持连接器的高可靠性

• 作者: 闻春国
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 连接器 接触件 镀层 插拔力 接触电阻 测试
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 30-36,40
• 分类号: TM58
• 字数: 7423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2011.01.007

摘要

文章介绍了新近开发的替代传统镀层的电解液Ni/Pd-Ni/Au-Co,并在技术特性上进行相应的比较,并由此得出结论:它不仅可以降低接触件的制造成本,而且可以保持较高的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闻春国		16	5	1.0	1.0