基于MCNP对CT系统中探测器材料性能的研究

• 作者: 代志力 陈浩 黎明
• 来源期刊: CT理论与应用研究
• 学科: 工学
• 关键词: CT系统 探测器 MCNP
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 工业CT
• 页码范围: 63-71
• 分类号: TL816
• 语种: 中文

摘要

探测器是辐射成像系统中的关键器件之一,探测器的性能优劣和成像系统的最终指标关系密切,因此在做成像系统设计时关于探测器的物理计算足非常关键的内容.本文利用MCNP模拟了3种闪烁体材料的性能指标(粒子探测效率,能量沉积率,有效沉积因子)是设计高能辐射成像系统的基础工作之一,具有借鉴意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈浩	中国工程物理研究院应用电子学研究所	12	58	4.0	7.0
2	黎明	中国工程物理研究院应用电子学研究所	50	146	5.0	9.0
3	代志力	中国工程物理研究院研究生部	2	2	1.0	1.0