量子点及其合成研究中的常用表征技术简介

• 作者: 严拯宇 徐之冀 胡育筑
• 来源期刊: 化学通报
• 学科: 工学
• 关键词: 量子点 表征 分析技术
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 知识介绍
• 页码范围: 931-935
• 分类号: TS807
• 语种: 中文

摘要

简单介绍了新型荧光材料量子点（QDs）的合成和应用,并对在QDs的表征中使用的分析技术及仪器（常用的技术和仪器有透射电子显微镜、X射线衍射、紫外-可见光分光光度仪、荧光分光光度仪、红外分光光度仪等）所能获得的QDs结构、粒径大小和分布、荧光量子产率和表面修饰结果等方面信息进行了重点介绍。