去除电磁辐射测量信号中同频背景噪声的研究

• 作者: 张延彬 牛慧 王旋 邹澎
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 同频背景噪声 自适应对消 递归最小二乘 相关性
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 测量与控制技术
• 页码范围: 29-33
• 分类号: TM937
• 字数: 4229字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2011.03.006

摘要

现实环境中由于存在大量的背景噪声,当背景噪声和被测辐射的频率相同时,将导致无法进行精确测量.提出了一种基于递归最小二乘(RLS)自适应对消的精确测量系统,利用接收信号的相关性来将被测信号中同频背景噪声去除掉.分析了实际测量中存在的通道噪声和串扰对测量系统性能的影响.理论分析和仿真结果表明,该技术可以去除同频背景噪声,从而在强背景噪声下提取出被测信号,实现对电磁辐射信号的精确测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹澎	郑州大学信息工程学院	35	225	9.0	12.0
2	牛慧	郑州大学信息工程学院	3	8	2.0	2.0
3	王旋	郑州大学信息工程学院	2	6	1.0	2.0
4	张延彬	郑州大学信息工程学院	13	29	3.0	4.0