多能谱X射线成像技术及其在CT中的应用

• 作者: 康克军 张丽 邢宇翔 郝佳 陈志强
• 来源期刊: CT理论与应用研究
• 学科: 工学
• 关键词: 光子计数探测器 X射线成像 计算机断层扫描 多能谱技术
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 141-150
• 分类号: TP391
• 语种: 中文

摘要

随着探测器技术的不断发展,具有能谱分辨能力的光子计数探测器成为人们研究的焦点,并在X射线成像领域开始得到应用.使用该种探测器,可以将具有较宽能谱分布的X射线分为不同的能区分别进行计数,获得详细的能谱信息及不同能量射线的衰减信息,由此引出了"多能谱成像"的概念.本义介绍了近些年来光子计数探测器技术的发展及其在X射线成像中的应用,同时分析了多能谱技术应用于CT成像所带来的一些优势,如降低辐射剂量、提高信噪比、提高物质识别精度、提高造影剂成像效果等.目前,许多研究机构都致力于研究更快速的电子学设备,以适应高计数率下快速成像的需求,随着多能谱成像技术研究的不断深入,必将为X射线成像及CT领域带来许多新的变革.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志强	清华大学工程物理系	124	1202	18.0	29.0
5	张丽	清华大学工程物理系	123	1363	19.0	31.0
9	邢宇翔	清华大学工程物理系	34	347	12.0	18.0
13	郝佳	清华大学工程物理系	4	56	2.0	4.0