X-CT金属伪影校正方法综述

• 作者: 孙红胜 张峰 李庆亮 李磊 闫镔
• 来源期刊: CT理论与应用研究
• 学科: 工学
• 关键词: 计算机断层成像 金属伪影 插值法 达代法
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 131-140
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文

摘要

X-CT成像系统中,当被检测物体中含有金属等高密度物质时,对投影数据重建后,重建图像中将出现放射状伪影或带状伪影.这些伪影严重影响了图像的质量,给人们的判断带来极大困难.金属伪影的校正已成为CT技术中的研究难点和热点.本文阐述了金属伪影产生的原因,就近些年出现的金属伪影校正方法进行归纳总结,并对金属伪影校正方法研究的前景进行讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李磊	信息工程大学电子科学与技术系	41	260	9.0	14.0
2	闫镔	信息工程大学电子科学与技术系	54	384	11.0	17.0
3	张峰	信息工程大学电子科学与技术系	16	144	8.0	11.0
4	孙红胜	信息工程大学电子科学与技术系	18	90	5.0	8.0
5	李庆亮	信息工程大学电子科学与技术系	3	28	2.0	3.0