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摘要:
高温加速老化测试是半导体存储器产品可靠性评估必经的步骤.其中产品失效激活能的确定对数据保持能力研究有重要意义,它决定了老化可靠性评估的原则.文章首先介绍了可靠性评估原则的确定方法,然后在不同的温度下进行老化测试,利用数据规一划方法确定了相关重要数据,最后给出了在工艺稳定后的活化能和量产时的数据保持能力测试前烘烤的温度和时间.
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文献信息
篇名 嵌入式EPROM数据保持能力评估方法优化
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 存储器 加速因子 可靠性评估 激活能
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 33-36
页数 分类号 TN914
字数 3132字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2011.01.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐海涛 1 1 1.0 1.0
5 王智勇 1 1 1.0 1.0
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2011(1)
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研究主题发展历程
节点文献
存储器
加速因子
可靠性评估
激活能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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