退火处理对Ni-Cr合金桥膜的影响

• 作者: 卢斌 彭志明 申依林 解瑞珍
• 来源期刊: 火工品
• 关键词: Ni-Cr桥膜 退火 电阻 电阻温度系数
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 5-8
• 分类号: TJ450.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1480.2011.01.002

摘要

采用磁控溅射方法制备了厚度小于1 μm的Ni-Cr桥膜(w<,Ni>:80%,w<,Cr>:20%),研究了退火处理对不同厚度桥膜的电阻和电阻温度系数的影响.结果表明:当桥膜厚度较大时,退火导致电阻温度系数明显增大;当桥膜厚度较小时,退火对电阻温度系数影响不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢斌	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	11	71	5.0	8.0
2	解瑞珍	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	5	32	3.0	5.0
3	申依林		4	9	2.0	3.0
4	彭志明	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	2	1	1.0	1.0