X射线荧光光谱法测定含金石英石中7种成分

• 作者: 冯朝军 刘艳 曾静 李玉琴 胡军凯
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 地球科学
• 关键词: 粉末压片法 X射线荧光光谱法 含金石英石 二氧化硅
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 页码范围: 580-583
• 分类号: P575
• 字数: 3183字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2011.05.012

摘要

采用粉末直接压片,波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中SiO2、Al2O3、TFe2O3、CaO、MgO、Pb、Zn等7种成分.根据含金石英石中SiO2的含量范围,选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准样品,采用化学法准确定值,确定了仪器的最佳分析参数.对于Si和Al轻元素,荧光强度随粒度变化较为显著；制作的校准样品应密封保存,粉末压片后需马上进行测试.方法操作简单,成本低,测定范围宽,灵敏度高,精密度( RSD,n=11)均小于2.5％.与化学法对照,结果符合较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾静	大冶有色金属公司分析测试中心	8	10	2.0	2.0
2	胡军凯	大冶有色金属公司分析测试中心	9	51	4.0	7.0
3	刘艳	大冶有色金属公司分析测试中心	4	19	2.0	4.0
4	李玉琴	大冶有色金属公司分析测试中心	1	4	1.0	1.0