高频变压器铜损的三维模拟仿真与分析

• 作者: 代书鹃 刘庆想 唐冬林 王庆峰
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 变压器 集肤效应 临近效应 铜损 有限元分析
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 34-37
• 分类号: TM433
• 字数: 2411字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2011.06.008

摘要

对高频变压器建立三维电磁分析模型,采用有限元法对变压器铜损进行数值求解.模拟分析次级绕组段间距、初级绕组以及磁芯漏磁对次级绕组损耗的影响,并引入了矩形导线和圆导线之间的等效因子.分析表明,在考虑次级绕组段间距、初级绕组以及磁芯漏磁后,高频变压器次级铜损为246.086W,大于Dowell模型的理论计算值107.500W,这为变压器的优化设计提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘庆想	西南交通大学物理科学与技术学院	147	1039	16.0	24.0
2	王庆峰	西南交通大学物理科学与技术学院	40	185	7.0	11.0
3	代书鹃	西南交通大学物理科学与技术学院	2	6	2.0	2.0
4	唐冬林	西南交通大学物理科学与技术学院	2	6	2.0	2.0