片上系统(SoC)空间应用前景及可靠性若干问题的思考

• 作者: 刘宇 刘鸿瑾 张志国 朱辉 李澍
• 来源期刊: 质量与可靠性
• 学科: 工学
• 关键词: SoC 空间应用 可靠性
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 实践 经验
• 页码范围: 29-31
• 分类号: TN386
• 字数: 2295字
• 语种: 中文

摘要

调研了国内外SoC空间应用现状,分析了国内外SoC空间应用以及可靠性方面的差距,总结了国产SoC空间应用存在的可靠性问题,提出了相关建议,供产品设计单位及可靠性专业单位参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱辉		4	32	3.0	4.0
2	刘鸿瑾		13	72	5.0	8.0
3	张志国	中国航天科技集团公司宇航部	5	12	2.0	3.0
4	刘宇	中国航天科技集团公司宇航部	13	15	3.0	3.0
5	李澍		1	8	1.0	1.0