Si微波功率晶体管加速寿命试验夹具的设计

• 作者: 彭浩 童亮 高金环 黄杰
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 加速寿命试验 可靠性 试验夹具 Si微波功率管 步进应力试验
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 封装、检测与设备
• 页码范围: 639-642,650
• 分类号: TN306
• 字数: 3536字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.08.015

摘要

温度应力的加速寿命试验结果与所用夹具的耐温性及壳温的精确测量与控制直接相关.通过大量研究,发现一体式夹具在试验壳温提高到某一值时性能迅速劣化,因此设计符合高温下使用的分离式夹具是加速寿命试验顺利进行的必要条件.提供了两种加速寿命试验夹具的设计思路,并用于Si微波功率管加速寿命试验,通过步进应力试验和恒定应力试验,获取了该Si微波功率管加速寿命.分体夹具可耐受的试验温度在260℃以上,为加速寿命试验提供了温度应力的提升空间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭浩		12	5	1.0	2.0
2	童亮		4	0	0.0	0.0
3	高金环		10	33	3.0	5.0
4	黄杰		16	17	2.0	4.0