基于NVM修复的模拟电路Trimming技术

• 作者: 张建平 李罗生 高慧
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: Trimming技术 模拟电路 非易失性存储器 工艺波动
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 18-21,25
• 分类号: TN453
• 字数: 2869字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2011.05.006

摘要

模拟电路Trimming技术用于改善工艺波动及版图失配带来的影响,提高电路精度,改善电路性能.介绍了Trimming对于芯片电路设计的意义,基于非易失性存储器(NVM)进行Trimming的三种方法:直接输出、内建测试与自校准,以及Trimming电路的设计要点.使用NVM修复的Trimming方式可以广泛应用于高精度的模拟电路设计中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建平		2	1	1.0	1.0
2	高慧		1	1	1.0	1.0
3	李罗生		1	1	1.0	1.0