微测辐射热计用VO2薄膜及其改性研究

• 作者: 刘黎明 杨培志 莫镜辉
• 来源期刊: 云南师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: VO2薄膜 改性研究 离子掺杂 纳米结构 微测辐射热计
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 26-32
• 分类号: TB43|O484.4
• 字数: 5648字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-9793.2011.02.005

摘要

二氧化钒(VO2)薄膜是目前微测辐射热计的首选材料,但其性能还有很大的提高空间,开展其改性研究具有重要意义.VO2薄膜改性旨在通过材料组分和结构的调控获得更好的性能,以满足高性能微测辐射热计应用的要求.目前改善VO2薄膜热敏电阻特性的主要方法是采用离子掺杂和新的形态结构(纳米和非晶).文章介绍了VO2的基本结构及其在微测辐射热计上的应用,综述了离子掺杂、纳米及非晶结构VO2薄膜的研究现状,并提出了未来VO2薄膜改性研究的方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘黎明		24	160	7.0	12.0
2	杨培志	云南师范大学可再生能源材料先进技术与制备教育部重点实验室	42	68	5.0	6.0
3	莫镜辉		7	61	4.0	7.0