基于高光谱成像技术的苹果内外品质同时检测

• 作者: 单佳佳 吴建虎 张雷蕾 彭彦昆 李永玉 王伟
• 来源期刊: 农业机械学报
• 学科: 农学
• 关键词: 苹果 糖分含量 摔伤 高光谱 无损检测
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 农产品加工工程
• 页码范围: 140-144
• 分类号: S123
• 字数: 4008字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1298.2011.03.027

摘要

结合高光谱图像处理和光谱分析方法,通过一次图像扫描同时对苹果的表面摔伤和糖分含量进行检测.苹果第一主成分图像与794 nm的图像相减后进行去噪和阈值分割处理,摔伤检测的准确率为92.6%.对感兴趣区域的厦射光谱曲线进行多元散射校正、一阶导数和SG平滑处理后利用偏最小二乘回归方法建立糖分含量的预测模型,校正集相关系数Rc为0.93,SEC为0.47°Brix,验证集相关系数Rv为0.92,SEV为0.67°Brix.结果表明:利用高光谱成像技术可以实现苹果内部品质和外部品质的同时检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伟	中国农业大学工学院	112	1494	21.0	35.0
2	李永玉	中国农业大学工学院	48	718	15.0	25.0
3	彭彦昆	中国农业大学工学院	135	1809	24.0	36.0
4	吴建虎	中国农业大学工学院	12	432	10.0	12.0
5	张雷蕾	中国农业大学工学院	13	487	10.0	13.0
6	单佳佳	中国农业大学工学院	7	306	6.0	7.0