彩色X射线成像技术新进展

• 作者: 康克军 张丽 郝佳 陈志强
• 来源期刊: 中国体视学与图像分析
• 学科: 工学
• 关键词: 彩色X射线成像 光子计数 X射线探测器 计算机断层成像
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 203-208
• 页数: 6页
• 分类号: TL8
• 语种: 中文

摘要

X射线被发现的一个多世纪以来,在医学诊断、无损检测和安全检查等领域都发挥了不可替代的作用.随着技术的进步,X射线成像与传统摄影技术的发展过程一样,也在经历从"黑白"到"色彩"的变革.近些年具有能量响应的光子计数探测器开始用于X射线成像中,有力推动了这一变革.与传统的电荷积分式探测器不同,它可以获得不同能量区域内的光子计数,并将能谱信息融入到X射线图像中,因此可以得到"真彩色"X射线图像,使得检测更加直观准确,同时可以获得物质成分等信息.CERN等许多研究机构都在此领域开展了深入的研究,并诞生了许多新的成果.在乳腺成像、材料识别等领域,该技术已经得到了初步应用.本文介绍了彩色X射线成像和光子计数探测器的原理,光子计数探测器目前的发展,国际上彩色X射线成像技术的最新情况和其技术优势,并对该技术的未来进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志强		124	1202	18.0	29.0
2	张丽		123	1363	19.0	31.0
3	康克军		79	661	12.0	23.0
4	郝佳		4	56	2.0	4.0