应用高密度电法探测北京南口-孙河隐伏断裂

• 作者: 任俊杰 何仲太 侯治华 刘旭东 卢海峰 毛昌伟 郝彦军 钟南才
• 来源期刊: 防灾科技学院学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 第四纪地层 地层结构 高密度电法 活动隐伏断层探测 电阻率异常
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 灾害预测与防治研究
• 页码范围: 1-6
• 分类号: P315.2(21)
• 字数: 4523字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8047.2011.01.001

摘要

举例说明了高密度电法在北京南口-孙河活隐伏活动断层勘测中的应用,展现高密度电法在断层定位中的广阔应用前景.简单介绍了高密度电法的基本原理.视电阻率异常剖面揭示南口-孙河断裂为正断层,北东盘上升,南西盘下降,推测断裂倾角60°～68°.视电阻率异常剖面与钻孔资料对应较好,并与钻探资料分析的断裂活动特性基本吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘旭东		12	149	7.0	12.0
2	任俊杰		34	307	11.0	16.0
3	侯治华		17	229	5.0	15.0
4	何仲太		21	151	8.0	12.0
5	卢海峰		16	160	8.0	12.0
6	毛昌伟		3	36	2.0	3.0
7	郝彦军		1	24	1.0	1.0