原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展

• 作者: 罗立强 许涛
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 聚毛细管透镜 X射线荧光光谱仪 微区分析技术 X射线聚焦
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 综述与进展
• 页码范围: 375-383
• 分类号: O657.34
• 字数: 8984字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2011.03.028

摘要

原位微区X射线荧光(Micro-XRF)光谱分析技术是X射线光谱学领域一重要分支.近年来X射线毛细管光学透镜聚焦技术不断进步,以实验室X光源为基础的原位微区X射线光谱分析装置与应用技术快速发展,已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析.文章介绍了近年来X射线毛细管光学透镜技术发展和原位微区X射线光谱分析装置研制进展,对近年来micro-XRF光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析,以及刑侦科学中指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍,阐述了micro-XRF光谱分析技术性能的影响因素(空间分辨率和强度增益).micro-XRF光谱分析技术不仅可以获取样品表面的信息,还能够获取样品内部的信息,成为目前国际上一门迅速发展的竞争技术.我国在毛细管透镜制造技术与性能研究,以及micro-XRF应用领域取得了重要进展.由于X射线焦斑尺寸对能量的依赖性以及样品基质对X射线的吸收效应,在微区定量分析中易引入较大误差,利用X射线毛细管透镜获取更小光斑尺寸与高稳定性的X射线光束,提高micro-XRF分析技术的空间高分辨率性能和对基体效应进行校正实验将是今后一个重要的研究目标和分析研究难点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗立强		43	507	14.0	21.0
2	许涛		4	25	3.0	4.0