囚禁汞(199Hg+)离子Zeeman谱及磁场效应

• 作者: 佘磊 李交美 杨玉娜 柳浩 高克林 黄雄
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱学 囚禁汞离子 磁场效应 线宽
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 19-24
• 分类号: O433.1
• 字数: 2045字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2011.01.004

摘要

囚禁汞离子的光微波双共振实验是开展汞离子微波频标的实验基础.二级Zeeman效应是影响频率稳定度和磁场效应的重要因素之一.利用光学微波双共振方法测量了囚禁199Hg+离子基态Zeeman分裂.通过减小微波扫描的频率范围,得到钟跃迁频率和谱线线宽.采用磁屏蔽材料(坡莫合金)对离子阱囚禁区域的磁场进行屏蔽.使得囚禁汞离子的钟跃迁谱线的线宽减小到1.5 Hz.相对于无磁场屏蔽时,钟跃迁频率减小13.5 Hz,并利用二级Zeeman效应估算出磁屏蔽后离子囚禁区域磁场大小为0.1高斯.