电气噪声对地音传感器低频扩展范围的影响分析

• 作者: 刘雷钧 廖飞红 李小平
• 来源期刊: 机械
• 学科: 工学
• 关键词: 地音传感器 电气噪声 低频扩展范围 串联校正 主动减振
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 设计与研究
• 页码范围: 1-7
• 分类号: TP212.1
• 字数: 4345字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-0316.2011.02.001

摘要

地音传感器被广泛采用串联校正方法进行低频扩展以实现对低频及超低频振动的准确测量,电气噪声是影响其低频扩展范围的关键因素.建立了包含测量、预放大、传输及串联校正环节在内的多输入单输出地音传感器测振模型,定量分析了初、次级电气噪声水平与地音传感器低频扩展范围之间的关系.研究结果表明,初级电气噪声是限制地音传感器低频扩展范围的主要因素,次级噪声的影响主要取决于其与初级噪声的幅值之比及预放大倍数,影响程度较小.此研究方法,可方便求得某一地音传感器在一定电气噪声水平下可获得的最低测振频率,为地音传感器的选型及低频测振应用提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小平	华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室	26	220	9.0	14.0
2	刘雷钧	华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室	1	2	1.0	1.0
3	廖飞红	华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室	2	10	2.0	2.0