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小型化LC滤波器可靠性研究
小型化LC滤波器可靠性研究
作者:
杜银波
许悦
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
LC滤波器
微缺陷
可靠性
小型化
插损
二次熔融
摘要:
为了解决小型化LC滤波器在使用中出现的插损变大、功率下降等影响产品可靠性的问题,从产品的电路原理和结构入手,对与产品可靠性有关的元器件、生产过程、产品的使用等因素进行了分析,找出了主要是使用的元器件存在缺陷、生产过程控制不规范、产品使用不当等导致的产品失效.提出了加强检验和筛选剔除有缺陷的元器件,改进生产过程的工艺方法和工装夹具,对产品的售后服务进行改进等措施,使得产品失效率得到有效降低并提高了产品的使用可靠性,给用户提供了满足使用要求的产品.
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小型化宽阻带微带带通滤波器的设计
阶跃阻抗谐振器
交叉耦合
小型化
宽阻带
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
小型化LC滤波器可靠性研究
来源期刊
半导体技术
学科
工学
关键词
LC滤波器
微缺陷
可靠性
小型化
插损
二次熔融
年,卷(期)
2011,(1)
所属期刊栏目
封装、检测与设备
研究方向
页码范围
79-83
页数
分类号
TN713
字数
4041字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-353x.2011.01.020
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
杜银波
中国电子科技集团公司第十三研究所
4
13
2.0
3.0
2
许悦
中国电子科技集团公司第十三研究所
7
32
3.0
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二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
LC滤波器
微缺陷
可靠性
小型化
插损
二次熔融
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄179信箱46分箱
邮发代号:
18-65
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
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