不同填充率时三组元声子晶体缺陷态

• 作者: 周昕 易秀英 李雪勇
• 来源期刊: 湖南工业大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 声子晶体 三组元 线缺陷
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 基础理论
• 页码范围: 25-28
• 分类号: O426.5
• 字数: 2013字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9833.2011.06.007

摘要

运用基于平面波的超元胞方法，研究作为缺陷引入第三组元材料（四氯化碳）对二维二组元声子晶体（水／水银）带结构的影响。结果表明：当缺陷柱填充率发生变化时，原带隙的位置、宽度变化不大；缺陷带频率主要受第三组元材料物性参数的影响；当正常插入体填充率发生变化时，原带隙的位置、宽度都发生了改变，同时也影响缺陷带的出现，且这些缺陷态都是局域化的。因此，在具有宽带隙的二组元体系中引入适当的第三组元线缺陷，让缺陷带频率落在二组元体系的带隙中，就可以形成特殊的波导态。声子晶体的这一特性对于声波／弹性波的传播和新的声学应用具有重要意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易秀英	湖南科技职业学院机电系	3	2	1.0	1.0
2	周昕	湖南工业大学理学院	19	29	3.0	4.0
3	李雪勇	湖南工业大学理学院	14	33	4.0	5.0