X射线荧光光谱法测定镁质矿物原料中主次成分

• 作者: 亢德华 曲月华 王一凌 邓军华
• 来源期刊: 鞍钢技术
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 镁砂 熔融制样 烧损量 基体效应校正
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 33-36,45
• 分类号: O657
• 字数: 3684字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4613.2011.02.008

摘要

介绍了以国家标准物质作为参照物,采用熔融制样X射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料(镁石、菱镁矿)中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5含量测定.讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响.探讨了镁石、菱镁矿等碳酸盐样品烧损量对测定结果的影响和校正方法.该方法测定各元素的精密度(RSD)在0.17%～3.44%之间.实验表明,所得分析结果能够满足镁砂中常见组分快速分析的需要,且方法的精准度和分析速度优于现行的湿法化学分析法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	亢德华	鞍钢股份有限公司技术中心	25	146	8.0	11.0
2	曲月华	鞍钢股份有限公司技术中心	11	98	6.0	9.0
3	王一凌	鞍钢股份有限公司技术中心	13	100	6.0	9.0
4	邓军华	鞍钢股份有限公司技术中心	15	83	6.0	8.0