信号弹高度测试技术

• 作者: 冯巧玲 张磊磊 王高 雷树峰
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 物理学
• 关键词: 高度测试 面阵CMOS 信号弹 图像处理
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 测试、试验与仿真
• 页码范围: 74-77
• 分类号: O438
• 字数: 1215字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2011.03.018

摘要

信号弹的发射高度是信号弹的重要技术参数.为了测试信号弹发射高度,通过建立数学模型,提出采用单个面阵CMOS相机对信号弹高度进行测试的技术.通过前期相机工作视场角标定,对CMOS相机采集的视频图像采用MATLAB进行处理,实现对信号弹发射高度的实时测试.同时分析了误差来源,估算了系统误差精度.最终测得某信号弹的发射高度在159.348～167.567m之间.结果表明,该测试系统具有成本低、操作简单、布站方便、测量精度高、自动化程度高、不受测量场地的限制、排除了人工读取误差等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王高	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	129	435	11.0	13.0
2	冯巧玲	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	9	51	4.0	6.0
3	雷树峰		3	5	2.0	2.0
4	张磊磊	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	3	10	2.0	3.0