光斑尺寸对光热失调技术测量光学薄膜吸收的影响

• 作者: 周翱 郑培超 郝宏刚 饶敏
• 来源期刊: 应用激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学薄膜 吸收 光热 光斑尺寸
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 483-488
• 分类号: O484.4
• 字数: 2176字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AL20113106.0483

摘要

样品表面加热光斑和探测光斑的大小对光热技术有着重要影响,光热失调技术是一种新的可用于研究光学薄膜的微弱吸收的方法,文章理论分析了加热光斑和探测光斑尺寸对光热失调技术的影响.研究表明,加热光斑大小不变时,加热光调制频率增大,样品表面温升降低,温度分布区域减小；调制频率不变时,加热光斑越小,表面温升越大,分布区域越小.调制频率不变时,探测光斑越小,信号幅值越大,分布区域越小,信号幅值与加热光功率的线性关系的斜率越大,探测光斑的大小对信号幅频关系影响较小.研究结果对光热失调技术测量光学薄膜吸收具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝宏刚	重庆邮电大学光电工程学院	71	129	5.0	9.0
3	郑培超	重庆邮电大学光电工程学院	43	129	6.0	10.0
5	饶敏	重庆邮电大学光电工程学院	7	17	3.0	3.0
11	周翱	重庆邮电大学光电工程学院	4	9	2.0	3.0