宽禁带半导体器件环境适应性验证技术

• 作者: 关宏山 朱华顺 汪邦金
• 来源期刊: 雷达科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 宽禁带半导体 应用验证 微波模块 组件
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 收\发技术
• 页码范围: 469-473,478
• 分类号: TN957
• 字数: 2647字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2337.2011.05.017

摘要

应用验证是新型元器件走向实际工程应用必不可少的关键环节.从实际工程应用角度出发,给出了宽禁带半导体(SiC/GaN等)微波功率器件环境适应性验证过程中的验证分级(解决及时发现问题与验证周期、费用矛盾)、验证载体与工程应用统一性设计(器件研制源于工程、用于工程)、验证数据的可对比性设计(验证环节可追溯)方法及相关分析(指导工程设计),为宽禁带半导体微波功率器件的工程化研制提供数据支撑.文中的试验数据和设计思想可作为其他相关工程设计参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	关宏山	中国电子科技集团公司第三十八研究所	12	59	5.0	7.0
2	汪邦金	中国电子科技集团公司第三十八研究所	7	40	4.0	6.0
3	朱华顺	中国电子科技集团公司第三十八研究所	2	8	1.0	2.0