碰击开关锡晶须与引信弹道炸

• 作者: 何小健 王劲 王文彬 程剑
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 引信 弹道炸 碰击开关 锡晶须
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 1-4
• 分类号: TJ43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1194.2011.02.001

摘要

针对长贮的火箭破甲弹机电触发引信弹道炸问题,引入锡晶须的概念对引信弹道炸故障原因进行分析.采用在太阳光或者人工光源照射下,通过不断变化对碰击开关内、外罩的目视观察角度,发现了长贮的火箭破甲弹机电触发引信碰击开关内、外罩存在锡晶须现象.通过设计锡晶须导电使引信电路触发的方法,验证了锡晶须能够导致碰击开关异常导通和触发起爆控制电路.找出了碰击开关内、外罩的锡晶须可能是引起火箭破甲弹机电触发引信弹道炸的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何小健		1	5	1.0	1.0
2	王劲		1	5	1.0	1.0
3	程剑		1	5	1.0	1.0
4	王文彬		1	5	1.0	1.0